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上海東時貿易有限公司是一家從事DAGE、YXLON、島津、SEC、GE鳳凰、善思、日聯、愛蘭特等X-RAY檢測機X-RAY射線機無損檢測及配件，回收，租賃，銷售，維修，保養(yǎng)，培訓于一體的科技公司。
產品名稱：X-eye 微焦X-RAY檢測設備產品型號：X-eye 5000BTS產品特點：90kV微焦X射線管
樣品尺寸達460 x 340
放大倍率達400x
預設檢查條件功能 (運動模式數控編程)
配備各種測量和注釋工具
X射線檢測**解決方案X-eye 5000BTS型號是針對常規(guī)無損檢測和缺陷分析而設計的一款高性能X-ray檢測設備。
X-eye 5000BTS型號裝載有90kV微焦閉管，焦斑尺寸達5μm，可提供高質量清晰圖像。
配備有多種控制軸系統(tǒng)的X-eye 5000BTS型號設備可以操控樣品從任何倍率，任何傾斜角度下進行檢測。
設備裝載的預設檢查條件功能，使檢查系統(tǒng)升級為半自動化設備。
操作界面友好，配備各種測量和備注工具，使用方便快捷。

當前很制造業(yè)工業(yè)中，鋁鑄件的市場在穩(wěn)步增長，特別是一些生產關鍵性的件，為了安全性的需要，其生產的廠家必須保證其產品的質量。在鋁鑄件產品的問題中，鋁鑄件的裂紋、縮松、氣孔、砂眼或其他內部缺陷可能會對其終用戶造成巨大的損失，如造成產品的不合格就不能交貨。常規(guī)的檢測方法是無法檢測鑄件內部缺陷的，這時候就需要運用X-Ray無損檢測設備檢測鋁鑄件的好壞。
X-Ray無損檢測設備可以非常方便的進行鋁鑄件產品檢測。檢測實時成像，使得許多缺陷一目了然。X-Ray檢測設備可以跟廠家的生產線對接，可以實現鋁鑄件產品在線的檢測。在鑄造件的生產過程中，由于一些廠家的需要鑄造件的壁厚在不斷減薄以減輕其重量，這就要求對鑄造件的質量及制造周期的要求卻越來越高。這些情況也更要求廠家用X-Ray檢測設備來對這些鑄件產品進行檢測。，
X-Ray無損檢測設備對常見的汽缸體，缸蓋，轉向機殼體，車輪支撐件等都能進行全面的檢測。同時也能夠對氣孔，疏松和零件缺失進行檢測。總之，采用X射線檢測技術能滿足廠家不斷提高的質量保證要求，為鑄件檢測提供了為有力的**。

射線探傷是利用放射線(X射線、γ射線或其他高能射線)能夠穿透金屬材料，并由于材料對射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據此來判斷材料內部缺陷情況的一種檢驗方法，簡稱RT。X射線、γ射線均為不可見光，是一種具有較短波長的電磁波。其主要特性有：
(1)人眼不可見，射線直線傳播;
(2)不受電場和磁場的影響，其本質是不帶電的;
(3)能透過可見光所不能透過的物質，包括金屬材料;
(4)能使某些物質起光化學作用，使膠片感光，使某些物質發(fā)生熒光作用;
(5)能被物質的原子吸收和散射，從而在穿透物質的過程時發(fā)生衰減現象;
(6)對有機體產生生理作用，傷害及殺死有生命的。
當射線穿透被檢驗的金屬時，由于原子對射線的吸收與散射作用，射線的強度受到削弱，材料厚度越大，強度減弱越多。如果在X射線、γ射線穿透途中，遇到材料內部的各種缺陷，如氣孔、夾渣、裂縫等，由于這些缺陷對射線的衰減作用，比毗鄰的致密金屬要小得多，從而使照相底片或熒光屏上呈現不同黑度的影像，由此即可判別缺陷的性質和大小。
射線探傷適用于各類鋼材、有色金屬材料等，特別適用于檢查焊縫的質量。它具有發(fā)現缺陷直觀、檢查結果準確可靠、可將底片保留備查等優(yōu)點。
日聯科技制造的UNC系列X射線無損探傷檢測機，檢測速度快，檢查全面，是工業(yè)生產和質量控制的一個重要部分。隨著科技進展的步伐，X射線檢測技術也在不斷完善。其產品在檢測性能上，安全性上已得到市場的廣泛認可且久經考驗。

錫爐
一般情況下，錫爐是指電子接焊接中使用的一種焊接工具。對于分立元件線路板焊接一致性好，操作方便、快捷、工作效率高，是您生產加工的好幫手。
X-ray檢測
X-RAY無損檢測X光射線 (以下簡稱X-Ray) 是利用一陰極射線管產生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-Ray形式放出，其具有非常短的波長但高電磁線。而對于樣品無法以外觀方式檢測的位置，利用紀錄X-Ray穿透不同密度物質后其光強度的變化，產生的對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內部結構，進而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內部有問題的區(qū)域。
檢測項目：
1.IC封裝中的缺陷檢驗如﹕層剝離(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打線的完整性檢驗。
2.印刷電路板制程中可能產生的缺陷，如﹕對齊不良或橋接(bridging)以及開路(open)。
3.SMT焊點空洞(cavity)現象檢測與量測(measuration)。
4.各式連接線路中可能產生的開路(open)，短路(short)或不正常連接的缺陷檢驗。
5.錫球數組封裝及覆芯片封裝中錫球(solder ball)的完整性檢驗。
6.密度較高的塑料材質破裂(plastic burst)或金屬材質空洞(metal cavity)檢驗。
7.芯片尺寸量測(dimensional measurement)，打線線弧量測，組件吃錫面積(Solder area)比例量測。
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